超聲檢測(cè)與射線檢測(cè)的比較

來(lái)源：未知發(fā)布日期：2021-06-15 09:30【大中小】

超聲檢測(cè)與射線檢測(cè)兩種檢測(cè)技術(shù)可以對(duì)材料內(nèi)部缺陷與表面缺陷進(jìn)行檢測(cè)，但更關(guān)注的是材料內(nèi)部缺陷的檢測(cè)。

兩種方法具有各自的優(yōu)缺點(diǎn)。
射線檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)是缺陷顯示直觀，定量、定位準(zhǔn)確，可以定性，檢測(cè)結(jié)果可以長(zhǎng)期保留。

缺點(diǎn)是檢測(cè)周期長(zhǎng)，成本高，大厚度工件檢測(cè)比較困難。
常規(guī)超聲檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)周期短，成本低，大厚度工件檢測(cè)方便。

缺點(diǎn)是不能顯示缺陷形狀，不能精確定量，很難定性。

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